SuperView W1光电器件3D看上去看上去仪可普遍利用于半导体制作及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其紧密配件、光学加工、微纳资料及制作、汽车零部件、MEMS器件等超紧密加工行业及航空航天、国防兵工、科研院所等范畴中。可测各种从超滑腻到粗拙、低反射率到高反射率的物体外表，从纳米到微米级别工件的粗拙度、平坦度、微观多少外表、曲率等，供给按照ISO/ASME/EUR/GBT四大国际外规范总计300余种2D、3D参数作为评估规范。
SuperView W1光学3D外表外表仪外表阐发步骤先容：
1.将样品安排在载物台镜头下方；
2.查抄机电毗连和情况噪声，确认蘑菇视频
状况；
3.利用支配杆调理Z轴，找到样品外表干与条纹；
4.微调XY轴，找到待测地区，偏重新找到干与条纹；
5.实现扫描设置和定名等支配；
6.点击起头丈量（进入3D视图窗口扭转调剂察看一会）；
7.台阶样品阐发第一步：校平；
8.进入数据处置界面，点击“校平”图标，战争面样品差别，台阶样品需手动拔取基准地区，选好基准地区后，先“全数解除”再“包含”；
9.若样品外表有好几处地区均为立体且高度分歧，可多挑选几个地区作为基准面停止校平；
10.台阶高度丈量：线台阶高度丈量
11.进入阐发东西界面，点击“台阶高度”图标，便可间接获得主动检测状况下的面台阶高度相干数据；
12.在右边点击“手动检测”，按照需要挑选适合的外形作为立体1战争面2的丈量地区，数据栏可间接读取两个地区的面台阶高度数值；
13.台阶高度丈量：线台阶高度丈量
14.进入数据处置界面，点击“提取剖面”图标，利用适合标的目的的剖面线，提取方针地位的剖面外表曲线；
15.进入阐发东西界面，点击“台阶高度”图标，因为所测为中心凹槽到两侧立体高度，是以点击右边东西栏，丈量条对数挑选“2”，将白色基准线对安排到凹槽立体中心，两对丈量线对别离安排在两侧立体，便可在数据缆读取台阶高度数据。
